Begriffe der Elektronikfertigung: die Bestückgenauigkeit …und ein Bisschen Statistikwissen

Ich finde Statistik ja unglaublich spannend, aber eben auch herausfordernd…

Für das Verständnis der Angaben zur Bestückgenauigkeit ist ein Bisschen Statistikwissen sehr sinnvoll.

Die Bestückgenauigkeit wird meist in cpk oder im σ-Niveau angegeben.

Wir schauen mal das Beispiel ± 40 µm (3σ) an:

Stellt euch vor, ihr werft viele Male einen Dartpfeil auf eine Dartscheibe.

Weil ihr beim Darts besser seid als ich, landen die meisten Würfe nahe am Zentrum, aber einige sind weiter entfernt.

Bei 3σ heißt das in etwa, dass fast alle eurer Würfe (genauer gesagt 99,73%) sehr nah am Zentrum landen werden.

Also, wenn eine Maschine in der Elektronikproduktion eine Bestückgenauigkeit von ± 40 µm (3σ) hat, bedeutet das, dass fast alle Bauteile sehr genau platziert werden.

Fast alle (99,73%) werden innerhalb eines sehr kleinen Bereichs von nur 40 Mikrometern um den perfekten Platz herum landen.

Sowohl 3σ als auch das σ-Niveau sind Maße zur Bewertung der Prozessfähigkeit, basieren aber auf unterschiedlichen Berechnungsmethoden.

cpk bezieht sich auf die Lage des Prozessmittelwerts relativ zu den Spezifikationsgrenzen und die Streuung des Prozesses.

Das σ-Nivea gibt die Anzahl der Standardabweichungen an, die zwischen dem Prozessmittelwert und der nächstgelegenen Spezifikationsgrenze liegen.

cpk trifft also eine direkte Aussage über die Leistung des Prozesses, das σ-Niveau bietet eine allgemeinere Einschätzung über die Prozessleistung im Kontext der statistischen Normalverteilung.

Ein cpk von 1 entspricht in etwa einem 3σ-Prozess.Da liegen etwa 99,73% der Ergebnisse innerhalb der Spezifikationsgrenzen.

Für jeden Anstieg von 0,5 im cpk-Wert entspricht dies einer zusätzlichen σ-Stufe.